Спектрофотометр X-Rite i1 Pro EFl ES- 1000

Описание

Спектрофотометр X-Rite i1 Pro для измерения как на просвет, так и на отражение в полном комплекте.
Производство: Швейцария
В удобном кейсе
ТЕХНИЧЕСКИЕ ХАРАКТЕРИСТИКИ
Анализ спектра : голографическая дифракционная решётка с фотодиодной матрицей на 128 элементов
Спектральный диапазон: 380-730 нм, шаг-10 нм
Диаметр измерительной апертуры :4,5 мм
Интерфейс :USB
Размеры :151 х 66 х 67 мм
Масса :185 г